Содержание:
СОДЕРЖАНИЕ
Введение 2
1. Методы и средства дефектоскопии монолитных строительных конструкций 4
1.1 Виды дефектоскопии монолитных конструкций 4
1.2 Ультразвуковые методы дефектоскопии 11
1.3 Формирование технического задания 16
2. Выбор средств реализации микропроцессорного прибора 20
2.1 Выбор микроконтроллера 20
2.2 Выбор средств программирования и отладки 25
2.2.1 Программаторы и эмуляторы фирмы Texas Instruments 26
2.2.2 Программаторы и эмуляторы сторонних производителей 30
2.3 Выбор излучателей и приемников 35
2.4 Выбор средств вывода 41
3. Схемотехнический синтез микропроцессорного устройства, разработка элементов конструкции 51
3.1 Разработка структурной и принципиальной схем 51
3.2 Разработка печатной платы 54
3.3 Выбор материала для производства печатной платы 64
3.4 Выбор технологии монтажа печатной платы 67
3.5 Выбор элементной базы 70
3.6 Выбор корпуса для спроектированного прибора 71
4. Разработка мероприятий по повышению точности дефектоскопии 73
4.1 Выбор способа контакта со средой 73
4.2 Методы регулирования чувствительности 74
5. Организационно-экономическая часть 76
5.1 Аннотация 76
5.2 Организация и планирование процесса разработки 76
5.3 Стоимость производства устройства 81
5.3.1 Стоимость подготовки проекта 81
5.3.2 Стоимость комплектующих элементов 82
5.3.3 Стоимость производства и монтажа печатной платы 83
5.3.4 Стоимость сборки изделия 86
5.4 Расчет экономической эффективности 87
6. Безопасность жизнедеятельности и экологичность 89
6.1 Обеспечение мер безопасности при работе с ультразвуковым оборудованием 89
6.2 Обеспечение электробезопасности 91
Заключение 100
Список использованной литературы 101
Список использованной литературы
1. Алешин Н. П., Ультразвуковая дефектоскопия, Справочник, Минск, Высшая школа, 1987 год, 271 с.
2. Гурьев В.В., Дорофеев В.М. Контроль устойчивости зданий //Строительство. 2004.№ 10.С. 45-46.
3. Дорофеев В.М., Катренко В.Г., Назьмов Н.В. Автоматизированная станция мониторинга технического состояния несущих конструкций высотных зданий //Материалы 2-й международной конференции-выставки «Уникальные и специальные технологии в строительстве. UST-Build2005». - M., 2005, 12-13 апреля. С. 66-67.
4. Хоровиц П., Уинфилд П, Исскуство схемотехники, Москва, Мир, 1998 год, 700 с.
5. Фрунзе А. В. Микроконтроллеры? Это же просто! Москва, ООО «ИД СКИМЕН», 2002 год, 366 с.
6. Белов А.В. Создаем устройства на микроконтроллерах, Спб, Наука и техника, 2007, 304 с.
7. Угрюмов Е. В, Цифровая схемотехника, Спб, БХВ-Петербург, 2004, 528 с.
8. Райхлин В. А,, Основы цифровой схемотехники, Казань, из=во Казанского государственного университета, 2000 год, 352 с.
9. Кениг Манфред, Полное руководство по PIC-микроконтроллерам, перевод с немецкого, Киев, МК-Пресс, 2007 год, 255 с.
10. Вуколов Н. И, Михайлов А. Н, Знакосинтезирующие индикаторы, Справочник, Москва, Радио и связь, 1987 год, 576 с.
11. Ермаков О. Н., Сушков В. П., Полупроводниковые знакосинтезирующие индикаторы, Москва, Радио и связь, 1990 год, 240 с.
12. Кузнецова С. А., Нестеренко А. В, OrCad 10. Проектирование печатных плат, Москва, Горячая линия-Телеком, 2005, 454 с.
13. Ильин В. А., Технология изготовления печатных плат, Ленинград, Машиностроение, 1984 год, 77 с.
14. Алейников А. Ф, Гридчин В. А., Цапенко М. П., Датчики (перспективные направления развития), Новосибирск, НГТУ, 2001 год, 176 с.
15. Семенов Б. Ю, Микроконтроллеры МSР430, Первое знакомство, Москва, Солон-пресс, 2006 год, 128 с.
16. Болотовский Ю. И, Таназлы Г. И., OrCad. Моделирование. Поваренная книга, Солон-пресс, 2005 год, 200 с.
17. Москатов Е. А, Справочник по полупроводиковым приборам, Таганрог, 219 с. Каракеян В.И. «Безопасность жизнедеятельности», учебное пособие. Москва, 1999 год.
18. Каракеян В.И., Кузнецов О.А., Кольцов В.Б. Методические указания по выполнению контрольных заданий по курсу «Безопасность жизнедеятельности». Москва, 1999 год.
19. СНиП II-4-79 «Естественное и искусственное освещение. Нормы проектирования».
20. СН 512-78 «Технические требования к зданиям и помещениям для установки средств вычислительной техники».
21. Ресурсы Интернет
Выдержка из работы:
Некоторые тезисы из работы по теме Разработка микропроцессорного прибора для сканирования монолитных строительных конструкций
Введение
Произошедшие за последние годы внезапные обрушения купола «Трансвааль-парка» в Москве (2004г.), секции аэропорта во Франции (Париж, 2005 г.), кровли бассейна в г. Чусовой Пермского края (2005 г.), кровель катков в Германии и Австрии (2006г.), Басманного рынка в Москве (2006 г.), вывели вопросы контроля технического состояния несущих конструкций зданий и сооружений на одно из первых мест в системе комплексной безопасности функционирования строительных объектов.
Вышеназванные проблемы вызывают острую необходимость системной организации контроля технического состояния несущих конструкций зданий и сооружений
Основной целью технического обследования зданий является определение текущего технического состояния конструкций здания или сооружения, выявление степени физического износа, дефектов, выяснение эксплуатационных качеств конструкций; прогнозирование их поведения в будущем.
Строительно техническая экспертиза зданий проводится, в частности, в следующих случаях:
• оценка физического износа конструкций и инженерных систем (например, если планируется возобновление незавершенного строительства);
• определение состояния конструкций вследствие их залива, пожара и т. д.;
• обследование конструкций на предмет последующей перепланировки здания, надстройки этажей, углубления подвальной части;
• при планируемом капитальном ремонте здания;
• при модернизации или реконструкции здания;
• для выявления причин деформаций стен, перекрытий, колонн;
• при установлении причин появления сырости на стенах и промерзания.
В настоящее время для контроля технического состояния строительных конструкций чаще всего используют методы неразрушающего контроля. Эти методы основываются на наблюдении, регистрации и анализе результатов взаимоде